Enhanced GaAs Etch Rates Near the Edges of a Protective Mask

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of the Electrochemical Society 1966, Vol.113 (9), p.958
1. Verfasser: Shaw, Don W.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0013-4651
DOI:10.1149/1.2424166