Al Coverage of Surface Steps at SiO2 Insulated Polycrystalline Si Boundaries: Al Evaporation in Vacuum and Low Pressure Ar

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of the Electrochemical Society 1979-01, Vol.126 (8), p.1335-1338
Hauptverfasser: Silvestri, V. J., Rideout, V. L., Maniscalco, V.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0013-4651
1945-7111
DOI:10.1149/1.2129272