Analysis of Nonuniformities in the Plasma Etching of Silicon with  CF 4 /  O 2

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of the Electrochemical Society 1990-03, Vol.137 (3), p.954-960
Hauptverfasser: Kao, Alan S., Stenger, Harvey G.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0013-4651
1945-7111
DOI:10.1149/1.2086586