Silicon floating zone process : numerical modeling of RF field, heat transfer, thermal stress, and experimental proof for 4 inch crystals
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Veröffentlicht in: | Journal of the Electrochemical Society 1995, Vol.142 (3), p.1007-1014 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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ISSN: | 0013-4651 1945-7111 |
DOI: | 10.1149/1.2048513 |