Silicon floating zone process : numerical modeling of RF field, heat transfer, thermal stress, and experimental proof for 4 inch crystals

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of the Electrochemical Society 1995, Vol.142 (3), p.1007-1014
Hauptverfasser: RIEMANN, H, LÜDGE, A, BÖTTCHER, K, ROST, H.-J, HALLMANN, B, SCHRÖDER, W, HENSEL, W, SCHLEUSENER, B
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0013-4651
1945-7111
DOI:10.1149/1.2048513