Interface states distribution in electrical stressed oxynitrided gate-oxide

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of the Electrochemical Society 1998-07, Vol.145 (7), p.2489-2493
Hauptverfasser:	BELKOUCH, S, NGUYEN, T. K, LANDSBERGER, L. M, AKTIK, C, JEAN, C, KAHRIZI, M
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Electronics Exact sciences and technology Testing, measurement, noise and reliability
Online-Zugang:	Volltext
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