Metallic impurity gettering and secondary defect formation in megaelectron volt self-implanted Czochralski and float-zone silicon

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of the Electrochemical Society 1997-08, Vol.144 (8), p.2872-2881
Hauptverfasser: BROWN, R. A, KONONCHUK, O, BONDARENKO, I, ROMANOWSKI, A, RADZIMSKI, Z, ROZGONYI, G. A, GONZALEZ, F
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0013-4651
1945-7111
DOI:10.1149/1.1837910