Interpretation of carrier recombination lifetime and diffusion length measurements in silicon

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of the Electrochemical Society 1996-04, Vol.143 (4), p.1399-1405
Hauptverfasser:	BULLIS, W. M, HUFF, H. R
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Charge carriers: generation, recombination, lifetime, and trapping Condensed matter: electronic structure, electrical, magnetic, and optical properties Conductivity phenomena in semiconductors and insulators Electronic transport in condensed matter Exact sciences and technology Physics
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