Electron spectroscopy for chemical analysis of cool white phosphors coated with SiO2 thin film

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of the Electrochemical Society 1996, Vol.143 (1), p.302-305
Hauptverfasser: DANG, T. A, CHAU, C. N
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0013-4651
1945-7111
DOI:10.1149/1.1836427