High quality fluorinated silicon dioxide films prepared by temperature-difference-based liquid-phase deposition with ammonium hydroxide incorporation

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of the Electrochemical Society 2003-03, Vol.150 (3), p.F29-F32
Hauptverfasser: LEE, Ming-Kwei, SHIEH, Wu-Hung, SHIH, Chung-Min, LIN, Shuo-Yen, TUNG, Kuan-Wen
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0013-4651
1945-7111
DOI:10.1149/1.1540064