Single-Wafer Hot Wall Rapid Thermal Processing for Thin Gate Oxide Films

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Electrochemical and solid-state letters 2002-05, Vol.5 (5), p.F11
Hauptverfasser: Senzaki, Yoshihide, Schaefer, Marci, Sisson, Joseph, Barelli, Carl, Bailey, Jeff, Herring, Robert, Hayn, Regina
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1099-0062
DOI:10.1149/1.1461998