Pathway to depositing device-quality 50°C silicon nitride in a high-density plasma system

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of the Electrochemical Society 1999-06, Vol.146 (6), p.2254-2257
Hauptverfasser: FARBER, D. G, SANGHOON BAE, OKANDAN, M, REBER, D. M, KUZMA, T, FONASH, S. J
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0013-4651
1945-7111
DOI:10.1149/1.1391923