Nonuniform Distribution of Trapped Charges in Electron Injection Stressed SiO[sub 2] Films

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of the Electrochemical Society 2001, Vol.148 (2), p.F9
Hauptverfasser:	Yamabe, Kikuo, Liao, Kai, Minemura, Hiroaki, Murata, Masahide
Format:	Artikel
Sprache:	eng ; jpn
Online-Zugang:	Volltext
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