Conduction Path Fluctuation in Silicon Two-Dimensional Tunnel Junction Array

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Japanese Journal of Applied Physics 2009-06, Vol.48 (6S), p.6
Hauptverfasser: Matsushita, Koki, Nakajima, Anri
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0021-4922
1347-4065
DOI:10.1143/JJAP.48.06FD10