Extraction of Energy Distribution of Nitride Traps Using Charge Pumping Method in Silicon–Oxide–Nitride–Oxide–Silicon Flash Memory

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Japanese Journal of Applied Physics 2009-04, Vol.48 (4S), p.4
Hauptverfasser:	Choi, Won-Ho, Park, Sung-Soo, Choi, Kwang-Il, Nam, Dong-Ho, Kwon, Hyuk-Min, Han, In-Shik, Park, Byung-Seok, Om, Jae-Chul, Lee, Seaung-Suk, Joo, Han-Soo, Lee, Hi-Deok, Lee, Ga-Won
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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