Characteristics of Silicon Dioxide Film Deposited by Neutral Beam-Assisted Chemical Vapor Deposition

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Japanese Journal of Applied Physics 2008-12, Vol.47 (12R), p.8905
Hauptverfasser: Im, Young, Lee, Jung Hee, Lee, Youn-Seoung, Lee, Won-Jun, Rha, Sa-Kyun
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0021-4922
1347-4065
DOI:10.1143/JJAP.47.8905