Effect of Annealing on the X-ray Detection Properties of Nano-sized Polycrystalline Lead Oxide Films

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Japanese Journal of Applied Physics 2008-09, Vol.47 (9R), p.7393
Hauptverfasser: Cho, Sungho, Kang, Sangsik, Kwon, Chul, Yun, Min-Seok, Park, Jikoon, Park, Sungkwang, Choi, Jang-Yong, Mun, Chiwoong, Lee, Hyungwon, Nam, Sanghee
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0021-4922
1347-4065
DOI:10.1143/JJAP.47.7393