Direct Measurement of Transfer Functions in Kelvin Probe Force Microscopy Using Artificially Patterned Surface Potentials

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Japanese Journal of Applied Physics 2008-07, Vol.47 (7R), p.5630
Hauptverfasser:	Ozasa, Kazunari, Nemoto, Shigeyuki, Isoshima, Takashi, Ito, Eisuke, Maeda, Mizuo, Hara, Masahiko
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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