On the Characteristics and Spatial Dependence of Channel Thermal Noise in Nanoscale Metal–Oixde–Semiconductor Field Effect Transistors

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Japanese Journal of Applied Physics 2008-04, Vol.47 (4S), p.2636
Hauptverfasser:	Jeon, Jongwook, Yun, Yeonam, Kim, Junsoo, Park, Byung-Gook, Lee, Jong Duk, Shin, Hyungcheol
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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