Direct Patterning of Silicon Nitride Thin Film by Projection Photoablation for Fabricating Thin-Film Transistor Liquid Crystal Displays

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Japanese Journal of Applied Physics 2008-04, Vol.47 (4R), p.2152
Hauptverfasser: Chen, Chao-Nan, Wu, Gwo-Mei, Feng, Wu-Shiung, Jean, Hao-Wen
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0021-4922
1347-4065
DOI:10.1143/JJAP.47.2152