Behavior of Hydrogen in Excimer Laser Annealing of Hydrogen-Modulation-Doped Amorphous Silicon Layer

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Japanese Journal of Applied Physics 2008-03, Vol.47 (3S), p.1853
Hauptverfasser: Heya, Akira, Serikawa, Tadashi, Kawamoto, Naoya, Matsuo, Naoto
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0021-4922
1347-4065
DOI:10.1143/JJAP.47.1853