Imaging of Interference between Incident and Reflected Electron Waves at an InAs/GaSb Heterointerface by Low-Temperature Scanning Tunneling Spectroscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Japanese Journal of Applied Physics 2007-04, Vol.46 (4S), p.2618
Hauptverfasser: Suzuki, Kyoichi, Kanisawa, Kiyoshi, Perraud, Simon, Ueki, Mineo, Takashina, Kei, Hirayama, Yoshiro
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0021-4922
1347-4065
DOI:10.1143/JJAP.46.2618