Full-Bit Functional, High-Density 8 Mbit One Transistor–One Capacitor Ferroelectric Random Access Memory Embedded within a Low-Power 130 nm Logic Process

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Japanese Journal of Applied Physics 2007-04, Vol.46 (4S), p.2180
Hauptverfasser: Udayakumar, K. R., Moise, T. S., Summerfelt, S. R., Boku, K., Remack, K. A., Gertas, J., Haider, A., Obeng, Y., Martin, J. S., Rodriguez, J., Shinn, G., McKerrow, A., Eliason, J., Bailey, R., Fox, G. R.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0021-4922
1347-4065
DOI:10.1143/JJAP.46.2180