Amorphous Silicon Film Deposition by Low Temperature Catalytic Chemical Vapor Deposition (<150 °C) and Laser Crystallization for Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistor Application

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Japanese Journal of Applied Physics 2006-03, Vol.45 (3L), p.L227
Hauptverfasser: Lee, Sung-Hyun, Hong, Wan-Shick, Kim, Jong-Man, Lim, Hyuck, Park, Kuyng-Bae, Cho, Chul-Lae, Lee, Kyung-Eun, Kim, Do-Young, Jung, Ji-Sim, Kwon, Jang-Yeon, Noguchi, Takashi
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0021-4922
1347-4065
DOI:10.1143/JJAP.45.L227