Infrared Study on Graded Lattice Quality in Thin GaN Crystals Grown on Sapphire

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Japanese Journal of Applied Physics 2006-02, Vol.45 (2R), p.646
Hauptverfasser: Kuroda, Noritaka, Kitayama, Takuya, Nishi, Yohei, Saiki, Kazuya, Yokoi, Hiroyuki, Watanabe, Junji, Cho, Meoungwham, Egawa, Takashi, Ishikawa, Hiroyasu
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0021-4922
1347-4065
DOI:10.1143/JJAP.45.646