High Sensitive Imaging of Atomic Arrangement of Ge Clusters Buried in a Si Crystal by X-ray Fluorescence Holography

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Japanese Journal of Applied Physics 2006-06, Vol.45 (6R), p.5248
Hauptverfasser:	Kusano, Shuji, Nakatani, Shinichiro, Sumitani, Kazushi, Takahashi, Toshio, Yoda, Yoshitaka, Usami, Noritaka, Shiraki, Yasuhiro
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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