Electrical Characteristics of Epitaxial γ-Al 2 O 3 /Si for Quantum Tunneling Device

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Japanese Journal of Applied Physics 2006-06, Vol.45 (6R), p.5107
Hauptverfasser: Kim, Jang-Seop, Shahjahan, Mohammad, Mosammat, Halima Khatun, Sawada, Kazuaki, Ishida, Makoto
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0021-4922
1347-4065
DOI:10.1143/JJAP.45.5107