The Investigation of Ferroelectric Domain Behavior Affected by Thin Metallic Electrode

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Japanese Journal of Applied Physics 2006-03, Vol.45 (3S), p.1981
Hauptverfasser:	Kim, Jong-Hun, Baek, J., Khim, Z. G., Shin, Sangmin, Koo, June-Mo, Kim, Suk-Pil, Park, Youngsoo
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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