Quantitative Effects of Preferred Orientation and Impurity Phases on Ferroelectric Properties of SrBi 2 (Ta 1- x Nb x ) 2 O 9 Thin Films Measured by X-Ray Diffraction Reciprocal Space Mapping

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Japanese Journal of Applied Physics 2003-02, Vol.42 (Part 1, No. 2A), p.539-543
Hauptverfasser:	Saito, Keisuke, Yamaji, Isao, Akai, Takao, Mitsuya, Masatoshi, Funakubo, Hiroshi
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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