Characterization of the Initial Rapid Decay on Light-Induced Carrier Lifetime and Cell Performance Degradation of Czochralski-Grown Silicon

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Japanese Journal of Applied Physics 2003, Vol.42 (Part 1, No. 5A), p.2564-2568
Hauptverfasser:	Hashigami, Hiroshi, Dhamrin, Marwan, Saitoh, Tadashi
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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