Contact Potential Measurement of Carbon Nanotube by Kelvin Probe Force Microscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Japanese Journal of Applied Physics 2003, Vol.42 (Part 1, No. 4B), p.2449-2452
Hauptverfasser:	Maeda, Chikashi, Kishimoto, Shigeru, Mizutani, Takasi, Sugai, Toshiki, Shinohara, Hisanori
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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