Development of an Apparatus for High-Resolution Measurement of Permittivity of Fluids near the Critical Point and Detection of the Critical Anomaly for Supercritical Ethylene

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Japanese Journal of Applied Physics 2002, Vol.41 (Part 1, No. 11A), p.6455-6460
Hauptverfasser:	Tozaki, Ken-ichi, Kudo, Jun, Chen, Zai-hua, Nishikawa, Keiko
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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