Picosecond Time-Resolved X-Ray Diffraction of a Photoexcited Silicon Crystal

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Japanese Journal of Applied Physics 2002, Vol.41 (Part 1, No. 3A), p.1614-1615
Hauptverfasser: Yazaki, Akio, Kishimura, Hiroaki, Kawano, Hidetaka, Hironaka, Yoichiro, Nakamura, Kazutaka G., Kondo, Ken-ichi
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0021-4922
1347-4065
DOI:10.1143/JJAP.41.1614