Thickness Dependence of Material Properties of Epitaxial Pb(Zr x Ti 1-x )O 3 Films on Ir/(100) (ZrO 2 ) 1-x (Y 2 O 3 ) x /(100)Si Structures

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Japanese Journal of Applied Physics 1999-09, Vol.38 (9S), p.5378
Hauptverfasser:	Sadayoshi Horii, Sadayoshi Horii, Seiji Yokoyama, Seiji Yokoyama, Hideki Nakajima, Hideki Nakajima, Susumu Horita, Susumu Horita
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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