Anisotropic Resistivity of In-Plane-Aligned La 2-x Sr x CuO 4 (100) Films on LaSrGaO 4 (100) Substrates

We prepared in-plane-aligned La 2- x Sr x CuO 4 (100) films using LaSrGaO 4 (100) substrates by KrF laser ablation. The φ scan of X-ray diffraction and the large anisotropy of resistivity indicate a high degree of in-plane epitaxy. The T c of the in-plane-aligned La 2- x Sr x CuO 4 ( x =0.15) was 21...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Japanese Journal of Applied Physics 1997-05, Vol.36 (5R), p.2642
Hauptverfasser:	Hiroaki Myoren, Hiroaki Myoren, Roger Bergs, Roger Bergs, Takashi Tachiki, Takashi Tachiki, Jian Chen, Jian Chen, Kensuke Nakajima, Kensuke Nakajima, Mitsumasa Suzuki, Mitsumasa Suzuki, Tsutomu Yamashita, Tsutomu Yamashita, Hisashi Sato, Hisashi Sato, Michio Naito, Michio Naito
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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