A New Method of Dynamic Electric Birefringence Measurement Using a Sinusoidal Digital Lock-In System

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Japanese Journal of Applied Physics 1980-01, Vol.19 (11), p.2271-2278
Hauptverfasser:	Ookubo, Norio, Mori, Yasushi, Hayakawa, Reinosuke, Wada, Yasaku
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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