Phase Formation and Electronic Structure Peculiarities in the Al1 – xSi x Film Composites under the Conditions of Magnetron and Ion-Beam Sputtering

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physics of the solid state 2018-05, Vol.60 (5), p.1021-1028
Hauptverfasser: Terekhov, V. A., Usol’tseva, D. S., Serbin, O. V., Zanin, I. E., Kulikova, T. V., Nesterov, D. N., Barkov, K. A., Sitnikov, A. V., Lazaruk, S. K., Domashevskaya, E. P.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1063-7834
1090-6460
DOI:10.1134/S1063783418050311