Study of microdefects in GaAs:Si single crystals grown by the vertical gradient freeze method

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Crystallography reports 2007-03, Vol.52 (2), p.292-296
Hauptverfasser:	Filatov, P. A., Bublik, V. T., Markov, A. V., Shcherbachev, K. D., Voronova, M. I.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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