Influence of the field of the built-in oxide charge on the lateral C- V dependence of the MOSFET

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Doklady. a journal of the Russian Academy of Sciences. Physics 2010-02, Vol.55 (2), p.52-54
Hauptverfasser: Atamuratov, A. É., Matrasulov, D. U., Khabibullaev, P. K.
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1028-3358
1562-6903
DOI:10.1134/S1028335810020023