EPR identification of the triplet ground state and photoinduced population inversion for a Si-C divacancy in silicon carbide
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Veröffentlicht in: | JETP letters 2005-10, Vol.82 (7), p.441-443 |
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Hauptverfasser: | , , , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
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ISSN: | 0021-3640 1090-6487 |
DOI: | 10.1134/1.2142873 |