Imaging Traps in Oxide Semiconductors with the Aid of Thermostimulated Electron Emission

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Technical physics letters 2005, Vol.31 (7), p.600
1. Verfasser:	Nagornykh, S. N.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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