Damage of integrated circuits by high-velocity microparticles penetrating thick-wall obstacles

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Technical physics letters 2005-01, Vol.31 (1), p.46-47
Hauptverfasser:	Roman, O. V., Dybov, O. A., Romanov, G. S., Usherenko, S. M.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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