Multireflection Planar Time-of-Flight Mass Analyzer. II: The High-Resolution Mode

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Technical physics 2005, Vol.50 (1), p.82
1. Verfasser: Verentchikov, A. N.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1063-7842
DOI:10.1134/1.1854828