Multireflection Planar Time-of-Flight Mass Analyzer. II: The High-Resolution Mode
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Veröffentlicht in: | Technical physics 2005, Vol.50 (1), p.82 |
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1. Verfasser: | |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
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ISSN: | 1063-7842 |
DOI: | 10.1134/1.1854828 |