Ionization mechanisms of aluminum acceptor impurity in silicon

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	JETP letters 2004-01, Vol.79 (1), p.21-24
Hauptverfasser:	Mamedov, T. N., Andrianov, D. G., Herlach, D., Gorelkin, V. N., Stoikov, A. V., Zimmermann, U.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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