Hydrogen-induced splitting in silicon over a buried layer heavily doped with boron

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Semiconductors (Woodbury, N.Y.) N.Y.), 2003-06, Vol.37 (6), p.620-624
Hauptverfasser: Kilanov, D. V., Popov, V. P., Safronov, L. N., Nikiforov, A. I., Sholz, R.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1063-7826
1090-6479
DOI:10.1134/1.1582524