Field ion and scanning tunnel microscopy studies of surface and bulk defects in carbon and silicon

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Technical physics 2000-01, Vol.45 (3), p.343-348
Hauptverfasser:	Suvorov, A. L., Cheblukov, Yu. N., Lazarev, N. E., Bobkov, A. F., Popov, M. O., Babaev, V. P.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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