Characteristics of the formation of radiation defects in silicon structures

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Technical physics 1999-01, Vol.44 (1), p.110-112
Hauptverfasser:	Makhkamov, Sh, Tursunov, N. A., Ashurov, M., Saidov, R. P., Martynchenko, S. V.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!