Formation of a quasi-periodic boron distribution in silicon, initiated by ion implantation
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Veröffentlicht in: | Semiconductors (Woodbury, N.Y.) N.Y.), 1997-03, Vol.31 (3), p.279-282 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
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ISSN: | 1063-7826 1090-6479 |
DOI: | 10.1134/1.1187127 |