Investigation of the chemical state of copper in Cu/SiO2 composite films by x-ray photoelectron spectroscopy

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Physics of the solid state 1997-10, Vol.39 (10), p.1691-1695
Hauptverfasser:	Gurevich, S. A., Zaraiskaya, T. A., Konnikov, S. G., Mikushkin, V. M., Nikonov, S. Yu, Sitnikova, A. A., Sysoev, S. E., Khorenko, V. V., Shnitov, V. V., Gordeev, Yu. S.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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