Unusual phenomena in CVD SiO 2 under sustained electron bombardment

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IEEE transactions on electron devices 1980-09, Vol.27 (9), p.1841-1843
Hauptverfasser: Dobkin, D.M., Kane, R.J.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0018-9383
DOI:10.1109/T-ED.1980.20114