Correction to "On the characteristic of the deep-depletion SOS transistor"

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEEE transactions on electron devices 1978-07, Vol.25 (7), p.850-850
1. Verfasser:	Worley, E.R.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Electrons Inverters Probes Temperature Threshold voltage Transistors Voltage measurement
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